Инвертированный микроскоп Olympus GX53

Исследовательский микроскоп Olympus GX53

Инвертированный исследовательский микроскоп Olympus GX53, предназначен для материаловедческих исследований в отраженном свете. Полностью универсальная система со всеми функциями металлографии по методикам светлого поля, темного поля, дифференциально-интерференционного контраста и поляризации.

• Модульная конструкция.
• Работа в отраженном свете
• Методики контрастирования: светлое поле, темное поле, поляризация, ДИК
• Возможна установка промежуточного модуля увеличения (2х), моторизированного револьвера объективов и фильтров
• Высококачественная UIS оптика
• Увеличение от 12,5х до 1500х
• Наклонный и поворотный бинокулярный тубус
• Встроенный видео/фото порт, возможность подключения фотокамеры
• Исследование образцов весом до 5 кг.

Инвертируемый металлургический микроскоп Olympus GX53 позволяет проводить исследования в режимах светлого поля, темного поля, Дифференциально-интерференционного контраста Номарского и простом поляризованном свете. Переключение между светлым/темным полем производится путем переключения удобно расположенного слайдера. При работе с ДИК необходимо вставить слайдер Номарского в отведенный для него порт (один универсальный слайдер работает со всеми объективами).

Широкое разнообразие дополнительных модулей легко подсоединяемых к GX53, позволяют конструировать систему исходя из задач пользователей: соединение с цифровой фото или видеокамерой через промежуточный тубус (GX-SPU). Так как микроскоп GX53 разработан для длительных исследований, дизайн микроскопа полностью отвечает требованиям максимального удобства для оператора.

Микроскопы серии GX являются эргономичными, надежными инвертированными микроскопами, специально сконструированными для выполнения всех контрольно-измерительных задач в материаловедении и решения задач испытаний материалов в целом, для входного контроля образцов, контроля готовой продукции, выборочной проверки в технологическом процессе.

Все микроскопы серии GX – модульной конструкции, которая позволяет пользователю легко скомбинировать модификацию, необходимую для решения стоящих перед ним задач. Превосходная технологичность и эргономика микроскопов GX дарит пользователю не только повышенную точность и достоверность результатов исследования, но также комфорт работы и управления системой. Все органы управления, в том числе полевая (FS) и апертурная (AS) диафрагмы, фокусировка и регулировка освещения сбалансированы и находятся под рукой у пользователя.

Olympus GX53 – методики контрастирования

Микроскоп Olympus GX53 позволяет проводить исследования металлографических шлифов, а также шлифов композитных материалов. Проводить оценочные измерения балла зерна сталей, поиск неметаллических включений, изучение упрочненного слоя, анализ графита в чугуне и пр. Поддерживаются следующие методики контрастирования:

• Светлое поле. Изучение освещенного объекта в отраженном свете. Анализ зерен материалов, изучение неметаллических включений;
• Темное поле. Освещение объекта косопадающим светом вокруг исследуемой области. Любые дефекты поверхности, царапины и микронеровности становятся детально различимы;
• Простая поляризация. Изучение объектов в скрещенных николях (поляризатор и вращаемый анализатор). Поиск оптически активных объектов на шлифах, загрязнений, полимеров и пр;
• ДИК (Дифференциально-интерференционный контраст). Методика контрастирования, применяющаяся для анализа микрорельефа поверхности и подчеркивания границ зерен и структур материала.